EPL检测模组

Name: EPL检测模组
Brand: 势创智能
SKU: SC-EPL
Availability: InStock

SC-EPL

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以传统PL技术为基底，兼具EL级检测和成像能力——少子类/串阻类缺陷全精准识别

全国首款PL+EL双技术融合

EPL检测设备 是南京势创自主研发的全国首款以传统PL技术为基底，兼具EL级检测和成像能力的创新型光伏检测产品。区别于传统PL、EL检测设备功能单一的痛点，EPL可兼容并精准识别电池片少子类、串阻类等多类型缺陷，通过技术融合打破单设备检测局限。

集成PL（光致发光）与EL（电致发光）双检测技术，构建一体化检测体系：在不通电状态下深度挖掘本征缺陷，同时精准诊断电性能相关问题。贯穿光伏产品从研发到量产的全生命周期。

SC-EPL 设备示意

400×350×600mm | 约20kg

电池制造 · 分选机核心配置

电池组件封闭检测 · 串焊虚焊检测

高校/实验室 · 科研与工艺优化

覆盖电池片生产全流程在线/离线检测，电池片分选机核心配置。

层压、焊接、接线盒装配工序缺陷检测，串焊虚焊检测关键设备。

光伏材料和电池技术研发中性能分析与工艺优化核心测试工具。

掺杂均匀性、边缘过刻/欠刻、PN结异常；钝化效果；断栅/虚印/短路/隐裂。

少子寿命+缺陷分布+EL电性能，多维度分A/B/降级，保障组件一致性。

层压前后缺陷分析、串焊缺陷、二次晶格损伤、EL+PL双重报告。

串阻/少子类缺陷分析，材料本征特性/电性能表现，工艺参数迭代指导。

参数名称	技术指标
型号	SC-PLEL-PS (SC-EPL系列)
相机规格	NIR增强型，100万像素，曝光10μs~10s，响应400-1200nm
红外像素	100万像素
镜头规格	高清广角 16/25/45mm可选，视场角≥80°
光源规格	半导体激光，主波长808±5nm
光斑均匀性	≥90% (有效检测区域内)
曝光周期	200μs~1000μs，步长1ms可调
检测波长范围	900~1300nm (晶硅专用)
兼容尺寸	156×156mm ~ 210×210mm (半片/整片)
检测对象	晶硅电池(PERC/TOPCon/HJT/xBC)；裸片/带膜/封装组件
可检缺陷类型	隐裂、断栅、碎片、划伤、虚焊、过刻、黑斑、同心圆、低效率片、杂质污染等
载物台尺寸	适配自动化轨道（按需定制）
控制方式	自研上位软件全自动化控制
检测精度	裂纹宽度＞50μm
成像精度	≥0.2mm/pixel
对焦模式/距离	手动对焦 / 400-650mm
硬件支架	铝合金型、金属钣金
检测时间	0.5s~2s（依自动化节拍）
测试平台	Windows + 标配AI检测软件
功率	500-1000W
电源保护	逆电流/过载/漏电/静电/过热保护
运算设备	工控计算机
环境温度	15-50℃，湿度30%-70%（无凝结）
设备重量	约20kg（以实物为准）
外形尺寸	400×350×600mm (L×W×H)
供电	单相AC220V±10%，50HZ±1HZ

检测类型	EPL成像	EL成像	成像分析
偏移			与EL成像能力相当，可精准捕捉串阻类缺陷，成像效果稳定甚至更强，能满足偏移检测的核心需求。
断栅			采用三通道成像技术，断栅缺陷轮廓清晰、辨识度更高，检测结果直观易懂，便于快速判定缺陷情况。
多类型缺陷			无探针遮挡干扰，绿框区域各类缺陷全覆盖无遗漏，红框区域断栅缺陷特征突出，多类型缺陷检测精准。
轻微断栅+严重断栅			EPL对轻微断栅显示更清晰，可检出EL无法识别的未完全断路轻微断栅，同时清晰呈现严重断栅缺陷。