原硅片PL模组



简介

原硅片PL检测模组可将原硅片中肉眼不可以见的缺陷检测出,同时兼容多晶、单晶、类单晶硅片。

可针对于单晶、多晶、类单晶硅片的位错、绒丝、晶界等缺陷检出。

此模组为标准模组,可集成于硅片分选机、制绒上料机,达到控制产品质量、节约制造成本的目的。

  

                        硅片及对应PL图像


产品特性

检测出硅片中各种肉眼不可见缺陷

自动预测硅片的效率参考值

自动统计各缺陷与良品数量及比例,

产能大于6000/小时

无接触式检测,不对硅片二次损伤

提前筛选出问题片,节约制造成本


技术指标

可检测缺陷:

 绒丝、晶界、黑斑、污染、杂质、隐裂等

模块产能:

    >6000P/H

相机类型:

 高清红外线扫工业相机

适用电池片规格:

 156至210mm(±0.5mm) , 160~200μm

                           

缺陷图像 

  


   


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